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岛津出品半微量分析天平“AP225W”

何为半微量分析天平?

岛津最新出品“AP225W”半微量分析天平,具有最小刻度值0.01mg,并且能够在0.01mg的量级上测量高达220mg的物质,天平上带有的“AP支架”为标准附件,可使被测试管保持倾斜,同时,选配的“STABLO-AP”离子发生器可消除待测容器上的静电,进而提高测量的精准度,此外,将该天平与“LabSolutions Balance”(测量数据管理系统)相连,可使测量的各种数据贴合标准。

缘何开发?

诸如药品或化学用品行业,需要测量0.01mg量级的稀有痕量样品,为了避免留存在称重纸上的部分剩余样品因化学原因导致物理性质发生变化而致使测量结果出现偏差,因而需要将样品保留在试管中,为了精准检测大量试剂的使用量或者变化量,因而需要较大称量能力且更低分度值的分析天平。

基于以上需求,岛津结合质量传感器技术与数字控制技术,开发出“AP225W”具有最小刻度值的同时具备最大称量能力的半微型分析天平。

产品特色

  • 快速、稳定的测量:2s之内完成01mg级的痕量测量,独具温度补偿技术,避免因温度变化造成灵敏度变化的问题,恒久稳定测量;
  • 具有“AP支架”和离子发生器,测量更准确:“AP支架”可使被测物体斜置,离子发生器可消除静电。
  • 支持高效液相色谱分析和数据管理等多种功能。

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